Chaque semaine NAE vous propose une veille technologique sur une thématique de sa feuille de route technologique.
Aujourd’hui retrouvez sa veille sur la thématique Fiabilité électronique qui abordera :
- Intelligent Fault Diagnosis of Bearing Based on Convolutional Neural Network and Bidirectional Long Short-Term Memory
Source : www.hindawi.com – 2021-11-11
Lire la suite - [tel-03425224] Etude des phénomènes de piégeage sur la fiabilité à long terme des transistors à haute mobilité électronique en Nitrure de Gallium
Source : tel.archives-ouvertes.fr – 2021-11-10
Lire la suite - GaN power ICs incorporate temperature and current sensing
Source : www.powerelectronictips.com – 2021-11-09
Lire la suite - GaN chips add autonomous sensing and protection
Source : www.eenewspower.com – 2021-11-08
Lire la suite - BorgWarner to provide new silicon carbide inverter for German OEM’s electric vehicles
Source : www.automotiveworld.com – 2021-11-03
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