Date : 26/02/19

Horaire : 12h30 – 13h30

Format : Visio conférence (WEB EX)

Programme : Mesure de température de composants électroniques par spectrométrie Raman

La densification importante des composants électroniques et l’augmentation des densités de puissance engendrent des échauffements localisés pouvant être importants. Dans une optique de fiabilité des systèmes, il est donc primordial de pouvoir estimer la température « au plus juste ».

Les méthodes optiques de caractérisation de température permettent des mesures très localisées. Dans cet exposé, nous présenterons les principes de la diffusion Raman, mais aussi les différentes possibilités de mesurer la température de fonctionnement d’un composant électronique par spectroscopie Raman et ce, à l’échelle du micromètre et à différentes profondeurs. Ces performances sont uniques. Nous montrerons la richesse de la technique mais aussi ses difficultés.

L’exposé, qui n’est pas réservé à des initiés, sera illustré par de nombreux exemples issus de la littérature ou obtenus récemment au laboratoire GREYC sur des HEMTs GaN et ouvrant de nouvelles perspectives à cette méthode de caractérisation.

L’intervention sera réalisée par Bertrand Boudart, Professeur de l’Université de Caen Normandie depuis 2001. Bertrand Boudart effectue ses travaux de recherche au sein du laboratoire GREYC (UMR CNRS 6072) où il s’intéresse aux matériaux, aux composants électroniques actifs et aux applications de la spectroscopie Raman.

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Mov’eo : le pôle de compétitivité pour l’automobile et la mobilité propre et intelligente.

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