GPM
GROUPE DE PHYSIQUE DES MATÉRIAUX

La fiabilité électronique étudiée au nanomètre près

Le projet Defatom (Défaillance à l’échelle atomique) a vocation à identifier les causes de la défaillance à l’échelle atomique des composants électroniques. Elle peut être liée à un problème de diffusion atomique, a un court-circuit de diffusion, à des défauts structuraux… « Nous mettons les puces électroniques en condition de fonctionnement. Elles sont en place dans des radars, des avions ou des voitures pendant des milliers d’heures. Sous l’effet des conditions atmosphériques, des tensions électriques par exemple, des dégradations se produisent. Parmi les millions de transistors, il s’agit d’extraire et d’étudier celui qui pose problème », explique Philippe Pareige, directeur du laboratoire. Un travail réalisé à l’échelle de 1 nanomètre. Les secteurs de l’aéronautique et de la défense, ainsi que l’automobile, sont les premiers intéressés par ces analyses innovantes.

Banc de vieillissement RF pulsé

GPM a amélioré les méthodes de stress classiques des transistors de puissances radiofréquences. Cette approche consiste à intégrer les spécificités de fonctionnement des transistors utilisés en profil de vie type « RADAR » pour estimer leur durée de vie de manière plus réaliste qu’avec les méthodes conventionnelles. Cette méthode de stress et d’analyse du vieillissement permet également une meilleure estimation de la durée de vie des transistors. Cette innovation vient répondre aux nouveaux besoins de caractérisation du fait de l’arrivée de technologies de semiconducteurs « grand gap » qui ont permis de repousser les limites de puissances et de fréquences des émetteurs RADAR. Cette nouvelle méthode permet notamment de renforcer la fiabilité, l’opérabilité et la maintenabilité de ces appareils.