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Veille NAE : Fiabilité électronique  20211122

Veille NAE : Fiabilité électronique 20211122

Chaque semaine NAE vous propose une veille technologique sur une thématique de sa feuille de route technologique. Aujourd’hui retrouvez sa veille sur la thématique Fiabilité électronique qui abordera : Intelligent Fault Diagnosis of Bearing Based on Convolutional...
Etude des phénomènes de piégeage sur la fiabilité à long terme des transistors à haute mobilité électronique en Nitrure de Gallium – TEL – Thèses en ligne

Etude des phénomènes de piégeage sur la fiabilité à long terme des transistors à haute mobilité électronique en Nitrure de Gallium – TEL – Thèses en ligne

L’objectif principal de cette thèse est d’étudier les phénomènes de piégeage présents dans la structure des transistors à haute mobilité électronique (HEMT) en Nitrure de Gallium (GaN) des deux technologies GH25 et GL2D. Le travail présenté dans ce mémoire...