Chaque semaine NAE vous propose une veille technologique sur une thématique de sa feuille de route technologique. Aujourd’hui retrouvez sa veille sur la thématique Fiabilité électronique qui abordera : Les HEMT GaN de 150V gagnent en fiabilité et en simplicité de...
Grâce à une structure originale permettant de porter la tension de claquage de grille des transistors HEMT 150V en GaN à 8V contre 6V habituellement, le Japonais Rohm rend ces composants plus fiables et plus simples à contrôler. De quoi favoriser l’adoption du GaN à...
Power SiC MOSFETs are going to substitute Si devices by to their significantly better performances that make them much suitable in power switching applications such as electric/hybrid vehicles. The increasingly use of these devices in critical mission profiles...
Chaque semaine NAE vous propose une veille technologique sur une thématique de sa feuille de route technologique. Aujourd’hui retrouvez sa veille sur la thématique Fiabilité électronique qui abordera : STMicroelectronics Introduces High-Performance GaN Family –...
JEP184 provides definitions and procedures for characterizing the threshold voltage instability of SiC-based power electronic conversion semiconductor devices having a gate dielectric region biased to turn devices on and off. Bias Temperature Instabilities (BTI)...
