Chaque semaine NAE vous propose une veille technologique sur une thématique de sa feuille de route technologique.
Aujourd’hui retrouvez sa veille sur la thématique Fiabilité électronique qui abordera :
- Significant improvement of reverse leakage current characteristics of Si-based homoepitaxial InGaN/GaN blue light emitting diodes
Source : www.scopus.com – 2019-12-01
Lire la suite - Neutron detection performance of gallium nitride based semiconductors.
Source : www.ncbi.nlm.nih.gov – 2019-11-26
Lire la suite - 500W DC-DC converter module targets GaN RF power amplifiers designs
Source : www.eenewspower.com – 2019-11-21
Lire la suite - GMM-MUD: An Effective Multiuser Detection Algorithm for DS-UWB-Based Space Formation Flying Systems
Source : www.hindawi.com – 2019-11-20
Lire la suite - Nexperia launches GaN FET for automotive applications
Source : www.eenewsautomotive.com – 2019-11-20
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