Chaque semaine NAE vous propose une veille technologique sur une thématique de sa feuille de route technologique.
Aujourd’hui retrouvez sa veille sur la thématique Fiabilité électronique qui abordera :
- [tel-03391631] Coupled radiation and aging effects on wide bandgap power devices
Source : tel.archives-ouvertes.fr – 2021-10-21
Lire la suite - [tel-03391683] Méthodologie de simulation multiphysique du court-circuit dans les modules de puissance MOSFET SiC composant la chaîne de traction ferroviaire
Source : tel.archives-ouvertes.fr – 2021-10-21
Lire la suite - Thermal Management in the Silicon Carbide Revolution
Source : www.idtechex.com – 2021-10-13
Lire la suite - STMicroelectronics N : Robust Isolated SiC Gate Driver from STMicroelectronics Saves Space in Narrow SO-8 Package –
marketscreener.com
Source : www.marketscreener.com – 2021-10-07
Lire la suite - [tel-03368405] Convertisseur isolé à large plage de tension d’entrée, utilisant des transistors GaN en commutation douce, pour applications spatiales
Source : tel.archives-ouvertes.fr – 2021-10-06
Lire la suite - Performance of wide-bandgap discrete and module cascodes at sub-1 kV: GaN vs. SiC
Source : www.scopus.com – 2021-10-01
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