Chaque semaine NAE vous propose une veille technologique sur une thématique de sa feuille de route technologique.
Aujourd’hui retrouvez sa veille sur la thématique Fiabilité électronique qui abordera :
- Silicon carbide die sintering layer: manufacturing process optimization and modeling
Source : dx.doi.org – 2022-01-20
Lire la suite - Largest dedicated GaN producer offers low prices and wide availability
Source : www.electropages.com – 2022-01-19
Lire la suite - SiC photodiode for NASA mission to Venus – eeNews Europe
Source : www.eenewseurope.com – 2022-01-18
Lire la suite - Interface-mechanical and thermal characteristics of Ag sinter joining on bare DBA substrate during aging, thermal shock and 1200W/cm2 power cycling tests
Source : ieeexplore.ieee.org – 2022-01-14
Lire la suite - A digital-controlled gate charge detection circuit for short-circuit protection and condition monitoring of SiC MOSFET
Source : onlinelibrary.wiley.com – 2022-01-13
Lire la suite - Developed non-destructive verification methods for accelerated temperature cycling of power MOSFETs
Source : www.scopus.com – 2022-01-01
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