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Chaque semaine NAE vous propose une veille technologique sur une thématique de sa feuille de route technologique.
Aujourd’hui retrouvez sa veille n°9 sur la thématique Fiabilité qui abordera :
- Junction temperature estimation of SiC MOSFETs based on Extended Kalman Filtering
- Evaluation of LPCVD SiN Measurement in Si-Substrate-Based AlGaN/GaN MIS-HEMT
- A nonlinear model to assess DC/AC performance reliability of submicron SiC MESFETs
- Half Bridge Power Conversion Circuits Using Gan Devices
- A New Design Paradigm for GaN Based LLC Converter
- SiC MOSFETs robustness for diode-less applications
Retrouvez toute cette veille ici : CLIQUEZ ICI (avec lien hypertexte)[:]